手機(jī)可靠性測(cè)試-結(jié)構(gòu)耐久性測(cè)試條件
手機(jī)可靠性測(cè)試常規(guī)測(cè)試條件
結(jié)構(gòu)耐久測(cè)試 （Mechanical Endurance Test）
u 樣品標(biāo)準(zhǔn)數(shù)量：8 臺(tái)。
u 測(cè)試周期：7 天。
u 測(cè)試目的：各結(jié)構(gòu)件壽命測(cè)試。
1.按鍵測(cè)試（Keypad Test）
2 測(cè)試環(huán)境：室溫（20~25° C）；4臺(tái)手機(jī)；手機(jī)設(shè)置成關(guān)機(jī)狀態(tài)。
2 測(cè)試方法：導(dǎo)航鍵及其他任意鍵進(jìn)行10萬(wàn)次按壓按鍵測(cè)試。
2 試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：手機(jī)按鍵彈性及功能正常。
2.側(cè)鍵測(cè)試（Side Key Test）
2 測(cè)試環(huán)境：室溫（20~25° C）；4臺(tái)手機(jī)；手機(jī)設(shè)置成關(guān)機(jī)狀態(tài)；5萬(wàn)次按壓。
2 試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：手機(jī)按鍵彈性及功能正常。
3.翻蓋測(cè)試（Flip Life Test）
2 測(cè)試環(huán)境：室溫（20~25° C）；4臺(tái)手機(jī)；手機(jī)設(shè)置成開(kāi)機(jī)狀態(tài)；10萬(wàn)次開(kāi)合翻蓋測(cè)試。
2 試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：6萬(wàn)次后，手機(jī)外觀，結(jié)構(gòu)，及功能正常。
4.滑蓋測(cè)試（Slide Life Test）
2 測(cè)試環(huán)境：室溫（20~25° C）；4臺(tái)手機(jī)；手機(jī)設(shè)置成開(kāi)機(jī)狀態(tài)；8萬(wàn)次滑蓋測(cè)試。
2 試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：6萬(wàn)次后，手機(jī)外觀，結(jié)構(gòu)，及功能正常,滑蓋不能有松動(dòng)。
5. 重復(fù)跌落測(cè)試（Micro-Drop Test）
2 測(cè)試環(huán)境：室溫（20~25° C）；7cm高度 ,20mmPVC板；4臺(tái)手機(jī)；開(kāi)機(jī)狀態(tài)；6000次。
2 測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：手機(jī)各項(xiàng)功能正常，外殼無(wú)變形、破裂、掉漆，顯示屏無(wú)破碎，晃動(dòng)無(wú)異響。
6. 充電器插拔測(cè)試（Charger Test）
2 測(cè)試環(huán)境：室溫（20~25° C）；4臺(tái)手機(jī)。
2 試驗(yàn)方法：將充電器接上電源，連接手機(jī)充電接口，等待手機(jī)至充電界面顯示正常后，拔除充電插頭。在開(kāi)機(jī)不插卡狀態(tài)下插拔充電3000次。
2 檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：I/
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