溫度和濕度是影響產(chǎn)品功能和壽命的兩個非常重要的因素，溫濕度類測試用來考核整機(jī)、零部件、原材料在耐受高溫、低溫、溫度與濕度循環(huán)變化、恒定溫度濕度、環(huán)境溫度快速變化等情況下使用、貯存、運(yùn)輸?shù)倪m應(yīng)性，是最為常見和廣泛采納的人工加速老化試驗類型。

測試項目： 高溫試驗（高溫啟動、高溫貯存、高溫工作、高溫老化...）、低溫試驗（低溫啟動、低溫貯存、低溫工作...）、冷熱沖擊試驗（溫度沖擊試驗）、交變濕熱試驗、溫濕度組合循環(huán)測試、快速溫變試驗、恒溫恒濕試驗等

溫濕度試驗適用于各類電子、電工、電器、塑膠、金屬、化學(xué)、建材、車輛、通訊、光纖、LED、液晶屏、儀表儀器、元器件、電路板、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機(jī)等產(chǎn)品的在環(huán)境下儲存、運(yùn)輸和使用的適應(yīng)性，安全性，持久性，精確性。

測試參考標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第 2 部分：試驗方法 試驗 A： 低溫；

GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第 2 部分：試驗方法 試驗 B： 高溫；

GB/T 2423.3-2016 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第 2 部分：試驗方法 試驗 Cab：恒定濕熱試驗；

GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第 2 部分：試驗方法 試驗 Db：交變濕熱（12h＋12h 循環(huán)）；

GB/T 2423.22-2012 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第 2 部分：試驗方法 試驗 N：溫度變化；

GB/T 2423.34-2012 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第 2 部分：試驗方法 試驗Z/AD： 溫度/濕度組合循環(huán)試驗；

IEC 60068-2-1：2007 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第 2 部分：試驗方法 試驗 A：低溫；

IEC 60068-2-1：2007 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第 2 部分：試驗方法 試驗 B：高溫；

IEC 60068-2-78：2012電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cab：恒定濕熱試驗；

IEC 60068-2-30：2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第 2 部分：試驗方法 試驗 Db：交變濕熱（12h＋12h 循環(huán)）；

IEC 60068-2-14：2009 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第 2 部分：試驗方法 試驗 N：溫度變化；

IEC 60068-2-38：2009 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第 2 部分：試驗方法 試驗Z/AD： 溫度/濕度組合循環(huán)試驗；

備注：

1. 試驗有哪些測試要求？

需要確認(rèn)測試所需溫（濕）度，溫（濕）度轉(zhuǎn)換時間，各溫（濕）度點保持時間，總的測試時間（或循環(huán)次數(shù)），樣品尺寸、大小及數(shù)量，測試中是否通電或其他中間測試，測試前后是否需要進(jìn)行功能測試，測試后對樣品的評估要求。

2. 測試周期

測試2-7個工作日即可出報告，也可提供加急服務(wù)。