金屬材料成分分析的常用技術
標題： 《金屬材料成分分析的常用技術》
金屬材料成分分析涉及多種檢測技術，每種技術有其獨特的優勢和適用范圍。
一、光譜分析法
1. 原子發射光譜法（AES）：通過測量樣品原子激發后發射的光來定量分析金屬中的元素。
2. X射線熒光光譜（XRF）：利用X射線激發樣品，根據元素特定的熒光光譜進行定量分析。
二、質譜分析法
1. 感應耦合等離子體質譜（ICP-MS）：將樣品中的金屬元素電離，并通過質譜儀進行定量分析，適用于痕量元素的檢測。
2. 二次離子質譜（SIMS）：通過發射高能離子束轟擊樣品表面，分析濺射出來的二次離子，獲得深度剖析信息。
三、其他分析技術
1. 電子探針微量分析（EPMA）：結合了電子顯微鏡和X射線光譜技術，可以在微觀層面上進行成分分析。
2. 激光誘導擊穿光譜（LIBS）：利用激光脈沖對樣品進行局部加熱至擊穿，通過分析發射光譜來確定元素種類和濃度。