隨著電子元器件可靠性的要求不斷提高,電子元器件向超微型化、高集成化、多功能化方向更加迅猛的發展,對器件的可靠性評價技術日益為人們所關注。近年來,在這方面也相繼取得了很多好的進展。以集成電路為例,如果沿用傳統的可靠性試驗來評價產品可靠性,對于集成度高、生產數量少、試驗費用昂貴的器件產品,普遍感到有很大的困難。
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